SDC DIO 系列：數位輸入 Dry / Wet 接點測試方法
1. 前言
在前一篇文章中，我們介紹了如何在沒有外部設備的情況下測試 DO（數位輸出）功能。本篇將延續該主題，說明 DI（數位輸入）的測試方法。由於 DI 屬於被動接收外部信號的輸入端，因此在測試時必須搭配外部設備提供信號。這些信號可分為兩種型態：Dry Contact（乾接點）與 Wet Contact（濕接點）。
2. 關鍵說明
Dry Contact（乾接點）
又稱為「無電位接點」或「電壓自由接點」（volt-free contact），顧名思義，該輸入端本身不帶任何電壓。它只是一個簡單的開關，需要手動或機械動作來觸發。常見應用包括門磁開關、繼電器接點、以及按鈕開關等。
Wet Contact（濕接點）
濕接點信號為帶電壓信號。與乾接點不同，濕接點是由外部電源驅動，能直接向輸入設備提供主動信號。常見應用包括 PLC 輸出端、NPN/PNP 感測器輸出等。
3. 接線方式
以下以 SDC0880I 的 DI1 為例，示範乾接點（按鈕開關作為輸出源）與濕接點（訊號產生器作為輸出源）的接線方式。
SDC0880I 腳位定義：
乾接點接線示意
濕接點接線示意
對於 SDC DIO 的濕接點輸入，邏輯 1 的電壓範圍為 10–50 VDC，邏輯 0 的電壓範圍為 0–3 VDC。若輸入電壓超出此範圍，可能導致 DI 功能異常或永久損壞。請參閱 SDC DIO 系列產品規格書以了解詳細要求。
4. 實作說明
DI 事件回呼函式
建議使用 DI 事件回呼（Event Callback）函式，該功能不僅能讀取 DI 狀態，還能即時監控 DI 變化。
若要正確捕捉 DI 事件，請將 DI 事件模式設定為「雙邊觸發（Rising 與 Falling edge）」。
P.S. 關於相關函式庫說明，請參閱文件：「SUNIX IO Expansion Card SDC API for Windows Development Manual_VX.0 For Driver X.X.X.X.pdf」。
5. 測試結果
乾接點： 成功觀測到數位輸出訊號變化。
濕接點： 數位輸出訊號參數：AMPL = 10.000V_PP，OFST = 5.00V，FREQ = 1.0Hz。
SDC DIO 系列：數位輸入 Dry / Wet 接點測試方法
1. 前言
在前一篇文章中，我們介紹了如何在沒有外部設備的情況下測試 DO（數位輸出）功能。本篇將延續該主題，說明 DI（數位輸入）的測試方法。由於 DI 屬於被動接收外部信號的輸入端，因此在測試時必須搭配外部設備提供信號。這些信號可分為兩種型態：Dry Contact（乾接點）與 Wet Contact（濕接點）。
2. 關鍵說明
Dry Contact（乾接點）
又稱為「無電位接點」或「電壓自由接點」（volt-free contact），顧名思義，該輸入端本身不帶任何電壓。它只是一個簡單的開關，需要手動或機械動作來觸發。常見應用包括門磁開關、繼電器接點、以及按鈕開關等。
Wet Contact（濕接點）
濕接點信號為帶電壓信號。與乾接點不同，濕接點是由外部電源驅動，能直接向輸入設備提供主動信號。常見應用包括 PLC 輸出端、NPN/PNP 感測器輸出等。
3. 接線方式
以下以 SDC0880I 的 DI1 為例，示範乾接點（按鈕開關作為輸出源）與濕接點（訊號產生器作為輸出源）的接線方式。
SDC0880I 腳位定義：
乾接點接線示意
濕接點接線示意
對於 SDC DIO 的濕接點輸入，邏輯 1 的電壓範圍為 10–50 VDC，邏輯 0 的電壓範圍為 0–3 VDC。若輸入電壓超出此範圍，可能導致 DI 功能異常或永久損壞。請參閱 SDC DIO 系列產品規格書以了解詳細要求。
4. 實作說明
DI 事件回呼函式
建議使用 DI 事件回呼（Event Callback）函式，該功能不僅能讀取 DI 狀態，還能即時監控 DI 變化。
若要正確捕捉 DI 事件，請將 DI 事件模式設定為「雙邊觸發（Rising 與 Falling edge）」。
P.S. 關於相關函式庫說明，請參閱文件：「SUNIX IO Expansion Card SDC API for Windows Development Manual_VX.0 For Driver X.X.X.X.pdf」。
5. 測試結果
乾接點： 成功觀測到數位輸出訊號變化。
濕接點： 數位輸出訊號參數：AMPL = 10.000V_PP，OFST = 5.00V，FREQ = 1.0Hz。
SDC DIO 系列：數位輸入 Dry / Wet 接點測試方法
1. 前言
在前一篇文章中，我們介紹了如何在沒有外部設備的情況下測試 DO（數位輸出）功能。本篇將延續該主題，說明 DI（數位輸入）的測試方法。由於 DI 屬於被動接收外部信號的輸入端，因此在測試時必須搭配外部設備提供信號。這些信號可分為兩種型態：Dry Contact（乾接點）與 Wet Contact（濕接點）。
2. 關鍵說明
Dry Contact（乾接點）
又稱為「無電位接點」或「電壓自由接點」（volt-free contact），顧名思義，該輸入端本身不帶任何電壓。它只是一個簡單的開關，需要手動或機械動作來觸發。常見應用包括門磁開關、繼電器接點、以及按鈕開關等。
Wet Contact（濕接點）
濕接點信號為帶電壓信號。與乾接點不同，濕接點是由外部電源驅動，能直接向輸入設備提供主動信號。常見應用包括 PLC 輸出端、NPN/PNP 感測器輸出等。
3. 接線方式
以下以 SDC0880I 的 DI1 為例，示範乾接點（按鈕開關作為輸出源）與濕接點（訊號產生器作為輸出源）的接線方式。
SDC0880I 腳位定義：
乾接點接線示意
濕接點接線示意
對於 SDC DIO 的濕接點輸入，邏輯 1 的電壓範圍為 10–50 VDC，邏輯 0 的電壓範圍為 0–3 VDC。若輸入電壓超出此範圍，可能導致 DI 功能異常或永久損壞。請參閱 SDC DIO 系列產品規格書以了解詳細要求。
4. 實作說明
DI 事件回呼函式
建議使用 DI 事件回呼（Event Callback）函式，該功能不僅能讀取 DI 狀態，還能即時監控 DI 變化。
若要正確捕捉 DI 事件，請將 DI 事件模式設定為「雙邊觸發（Rising 與 Falling edge）」。
P.S. 關於相關函式庫說明，請參閱文件：「SUNIX IO Expansion Card SDC API for Windows Development Manual_VX.0 For Driver X.X.X.X.pdf」。
5. 測試結果
乾接點： 成功觀測到數位輸出訊號變化。
濕接點： 數位輸出訊號參數：AMPL = 10.000V_PP，OFST = 5.00V，FREQ = 1.0Hz。
SDC DIO 系列：數位輸入 Dry / Wet 接點測試方法
1. 前言
在前一篇文章中，我們介紹了如何在沒有外部設備的情況下測試 DO（數位輸出）功能。本篇將延續該主題，說明 DI（數位輸入）的測試方法。由於 DI 屬於被動接收外部信號的輸入端，因此在測試時必須搭配外部設備提供信號。這些信號可分為兩種型態：Dry Contact（乾接點）與 Wet Contact（濕接點）。
2. 關鍵說明
Dry Contact（乾接點）
又稱為「無電位接點」或「電壓自由接點」（volt-free contact），顧名思義，該輸入端本身不帶任何電壓。它只是一個簡單的開關，需要手動或機械動作來觸發。常見應用包括門磁開關、繼電器接點、以及按鈕開關等。
Wet Contact（濕接點）
濕接點信號為帶電壓信號。與乾接點不同，濕接點是由外部電源驅動，能直接向輸入設備提供主動信號。常見應用包括 PLC 輸出端、NPN/PNP 感測器輸出等。
3. 接線方式
以下以 SDC0880I 的 DI1 為例，示範乾接點（按鈕開關作為輸出源）與濕接點（訊號產生器作為輸出源）的接線方式。
SDC0880I 腳位定義：
乾接點接線示意
濕接點接線示意
對於 SDC DIO 的濕接點輸入，邏輯 1 的電壓範圍為 10–50 VDC，邏輯 0 的電壓範圍為 0–3 VDC。若輸入電壓超出此範圍，可能導致 DI 功能異常或永久損壞。請參閱 SDC DIO 系列產品規格書以了解詳細要求。
4. 實作說明
DI 事件回呼函式
建議使用 DI 事件回呼（Event Callback）函式，該功能不僅能讀取 DI 狀態，還能即時監控 DI 變化。
若要正確捕捉 DI 事件，請將 DI 事件模式設定為「雙邊觸發（Rising 與 Falling edge）」。
P.S. 關於相關函式庫說明，請參閱文件：「SUNIX IO Expansion Card SDC API for Windows Development Manual_VX.0 For Driver X.X.X.X.pdf」。
5. 測試結果
乾接點： 成功觀測到數位輸出訊號變化。
濕接點： 數位輸出訊號參數：AMPL = 10.000V_PP，OFST = 5.00V，FREQ = 1.0Hz。
